高低溫沖擊試驗(yàn)箱是應(yīng)用液體汽體輔助減溫，待測(cè)物靜止不動(dòng)的檢測(cè)方法，是當(dāng)今電子部品檢測(cè)、科學(xué)研究、及其半導(dǎo)體材料生產(chǎn)流水線(xiàn)可用，可節(jié)約耗品檢測(cè)花費(fèi)，實(shí)際操作便捷、高信任度，是經(jīng)很多年科學(xué)研究開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的試驗(yàn)儀，為顧客出示長(zhǎng)期性靠譜的檢測(cè)工具。

　　盡管普通的溫度沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)冷、熱沖擊試驗(yàn)的開(kāi)始溫度未作硬性規(guī)定，但在進(jìn)行　高低溫沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)時(shí)這是一個(gè)要考慮的問(wèn)題，因?yàn)樵囼?yàn)是在低溫還是高溫條件下進(jìn)行的，因此決定了是否需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行干燥，從而延長(zhǎng)試驗(yàn)時(shí)間。當(dāng)測(cè)試結(jié)束時(shí)，低溫標(biāo)準(zhǔn)受試產(chǎn)品從冷熱沖擊測(cè)試箱(室)中取出后，應(yīng)在正常測(cè)試環(huán)境條件下恢復(fù)測(cè)試，直至樣品達(dá)到穩(wěn)定的到達(dá)溫度，此操作不可避免地會(huì)使試樣表面產(chǎn)生凝露引入溫度對(duì)產(chǎn)品的影響。因此改變了試驗(yàn)的性質(zhì)。

 

　　為解除這種影響，樣品可在50高溫箱內(nèi)恢復(fù)，待凝露干燥后再在常溫下達(dá)到溫度穩(wěn)定?？梢愿淖兤鹗紱_擊溫度，從低溫開(kāi)始測(cè)試，使測(cè)試結(jié)果在高溫環(huán)境下不會(huì)出現(xiàn)產(chǎn)品出高低溫沖擊試驗(yàn)箱的凝露。而使試樣經(jīng)受六次溫度(三次高溫，三次低溫)和五次溫度沖擊過(guò)程的兩種試驗(yàn)方法，僅僅是不同沖擊方向上的次數(shù)不同，兩者所能達(dá)到的試驗(yàn)效果基本相同，而后者不需要增加烘干時(shí)間，縮短了試驗(yàn)箱的冷熱沖擊試驗(yàn)時(shí)間。